Netzwerk für Technologen in der Elektronikfertigung

Prof. Dr.-Ing. habil Mathias Nowottnick, Universität Rostock Institut für Gerätesysteme und Schaltungstechnik Beschleunigte Alterungstests sind üblich, um Aussagen über die Lebensdauer elektronischer Baugruppen zu gewinnen. Der Vortrag stellt aktuelle Forschungsergebnisse zur beschleu