Prof. Dr.-Ing. habil Mathias Nowottnick, Universität Rostock Institut für Gerätesysteme und Schaltungstechnik
Beschleunigte Alterungstests sind üblich, um Aussagen über die Lebensdauer elektronischer Baugruppen zu gewinnen. Der Vortrag stellt aktuelle Forschungsergebnisse zur beschleunigten Alterung elektronischer Baugruppen vor. Gegenübergestellt werden die beschleunigte Alterung durch erhöhte Temperaturen, durch schnelle Zyklen sowie durch aktive Erwärmung. Aus dem Vergleich der Ergebnisse von aktiven und passiven Temperaturwechselzyklen von Lötverbindungen werden Schlussfolgerungen gezogen.
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